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【演講公告】6/2(五)_Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses
<<6/2(五)電機/資工系 聯合專題演講資訊如下>>

講題: Compact Modeling of Junction Failure in Semiconductor Devices Subject to Electrostatic Discharge Stresses
演講者: 劉俊傑 教授/劉俊傑教授/美國中佛羅里達大學/IEEE Fellow
日期:106年6月2日(五)14:00-16:00
地點:理工二館 第四講堂A307

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